Author(s): J-C Charlier, L Arnaud, I V Avilov, M Delgado, F Demoisson, E H Espinosa, C P Ewels, A Felten, J Guillot, R Ionescu, R Leghrib, E Llobet, A Mansour, H-N Migeon, J-J Pireaux, F Reniers, I Suarez-Martinez, G E Watson and Z ZanolliAffiliation(s): Unite de Physico-Chimie et de Physique des Materiaux (PCPM), European Theoretical Spectroscopy Facility (ETSF), Universite Catholique de Louvain, Place Croix du Sud 1, B-1348 Louvain-la-Neuve, Belgium; Centre de Recherche en Physique de la Matiere et du Rayonnement (PMR-LISE), Facultes Universitaires Notre-Dame de la Paix, 61 Rue de Bruxelles, B-5000 Namur, Belgium; Sensotran, s.l., Avenida Remolar 31, E-08820 El Prat de Llobregat, Barcelona, Spain; Service de Chimie Analytique et Chimie des Interfaces (CHANI), Universite Libre de Bruxelles, Faculte des Sciences, CP255, Boulevard du Triomphe 2, B-1050 Bruxelles, Belgium; Department of Electronic Engineering, Universitat Rovira i Virgili, Avenida Paisos Catalans 26, E-43007 Tarragona, Spain; Institut des Materiaux Jean Rouxel (IMN), Universite de Nantes, 2 rue de la Houssiniere-BP 32229, F-44322 Nantes Cedex 3, France; Departement Science et Analyse des Materiaux, Centre de Recherche Public-Gabriel Lippmann, rue du Brill 41, L-4422 Belvaux, Luxembourg; The Vega Science Trust, Unit 118, Science Park SQ, Brighton, BN1 9SB, UK
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